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发射光谱分析作为元素分析分析全铝量精度
所属分类：显微镜百科 点击次数：157 发布日期：2022-06-20
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发射光谱分析作为元素分析分析全铝量精度 元素分析方法的改进 以前，发射光谱分析法作为元素分析方法，在分析全铝量时，其精度是非常低的，实际上它只能作为一种参考值，所以必须首先提高其精度。这里介绍一下各种改进措施。 采用铁触发的方法 制作一个能够测定每次放电过程中铝光谱线强度的回路并进行观察，发现在铝光谱线强度中，有稳定的平均光谱线强度、有非常强的光谱线强度，也有非常弱的光谱线强度。而且当铝光谱线非常弱时，发光的铁也非常弱。 一般认为铁光谱线非常弱是由于放电不良或发光位置偏离所造成的，为了消除这些因素，要把每次放电时铁的光谱线强度作为触发判断，就可以去掉非常弱的铝光谱线强度。 在旧方法中，铁光谱线强度的积分值，取决于一定时间的放电次数；新方法是把这个放电次数作为内标准值来判断测定的好坏采用这种新方法可以使分析精度特别低的铝的分析精度得到改善。用铁触发方法选择的铝光谱线强度，在每次放电时，用电磁示波器记录其行为。
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