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磨矿给矿颗粒粒度直径测量图像显微镜
所属分类：显微镜百科 点击次数：195 发布日期：2022-06-20
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磨矿给矿颗粒粒度直径测量图像显微镜给矿控制回路控制实际磨矿给矿，用带式质量计监控给矿预设值，此质量计与旋流器水箱水平传感器串联。给矿的水控制回路保持棒磨给矿率和棒磨补加水量之比恒定以便在棒磨机中矿浆浓度不变。粒度监控信号与粒度预设值相比较，相应地，控制器将调整水箱中水加入量的给定值，以便保持在旋流器溢流中产品粒度一75 微米占59％。无须使用质量流量测定仪和变速泵即可控制循环负荷和水箱水位，水箱水位可精准地指示循环负荷量，因为大量的矿浆从球磨机排入水箱中。因此，借助控制棒磨机给矿率使磨机处理量控制回路保持尽可能高的水箱水位。 以上所讨论的控制方案的主要限制是各个控制器分别控制许多变量，由于这些变量的交互影响，很难达到更佳值。例如，在上面引述的实例中，用水箱的水加人量控制粒度，但是水箱水增加也会引起循环负荷的增大。同理，循环负荷可由给矿率控制回路控制，但是给矿率增加也会引起产品粒度的增加。这说明如果循环负荷(在此情况下水箱水位)是上述的给定值以及产品粒度也是上述给定值，那么水加入量控制回路将增加水箱水加入量，进而减少颗粒粒度，此作用增加循环负荷的速度比慢速作用给矿控制回路减少粒度的速度快。实际上，协调一个或更多的控制回路来减少这种交互式影响，这导致控制反馈的总体减慢。
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