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保定标题：芯片轮廓影像座标测量金相显微镜-细微的小工件
所属分类：新闻资讯 点击次数：244 发布日期：2026-04-21
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芯片轮廓影像座标测量金相显微镜-细微的小工件
两次电极涂布对位误差补偿技术
撷取硅芯片局部影像后，接着将储存局部影像的资料夹读入误差
补偿软体中进行补偿值运算。
首先，软体会利用影像寻边方法找出各影像上芯片轮廓及电极的外轮廓，
寻边后的轮廓点以固定长度切分，切分后的线段分别嵌合成直线，
而误差过大之线段判定为杂讯或印刷错误并将其排除。
接着分别嵌合芯片及电极之水平及垂直线并找出四角交点，
而两水平线的平分线及两垂直线的平分线之交点即为中心点。
角度定义方式则将上下两水平线相对于影像之角度平均与左右两
垂直线相对于影像之角度平均，再将两者取平均后即为芯片或电极相
对于影像的角度误差。误差补偿值则定义为 x、y、θ，其 x 和 y 表示
电极中心相对于芯片中心的座标误差值，而 θ 则为电极与芯片的角度
误差。因此，即可计算出电极涂布区域与芯片边界之间的误差关系