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保定标题：高解析TEM电子显微镜观察金属表面分布与形貌
所属分类：新闻资讯 点击次数：267 发布日期：2026-04-21
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高解析TEM电子显微镜观察金属表面分布与形貌
当样品原子内层轨道的电子受到入射的高能电子激发而脱离，留下电洞(hole)存在，较高能的外层轨道的电子会有极高的机率填补电洞的位置，
并且释放X射线，。不同元素X射线的能量也不尽相同，所以由元素的特征X射线能量，可分辨样品的组成。
一般来说，EDS分析元素的分辨率约小于1 %。TEM广泛应用于观测纳米材料的形貌与分析材料的晶格结构，
如直接度量纳米线之长度与宽度，及观察纳米颗粒的形貌与晶格
在高解析TEM下的分布与形貌。当放大倍率较低时，可统计纳米金颗粒粒径之分布情形。提高放大倍率，
进一步可观察到纳米颗粒之形貌非为正圆形，而为有稜有角的形状。纳米科技现今为炙手可热的科学研究主题之一，
然而其原理大多架构于基础物理与量子力学之上。想象一台穿透式电子显微镜在你面前，在其中运作的电子，
可是过着相对论性的生活（光速行进），利用波的性质将纳米尺度的影像呈现在我们面前