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保定标题：荧光经分光仪分光后由元件CCD影像分析
所属分类：新闻资讯 点击次数：296 发布日期：2026-04-21
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荧光经分光仪分光后由元件CCD影像分析
微光激发荧光光谱（Micro-Photoluminescence，μ-PL）
可在 4 K～300 K 的环境下进行，系统为量测和监控系统的结合，
当虚线部份的镜片组移入时，即成为监控系统，移开时即成为量测系统。
首先我们将系统架设为监控系统，使用白光灯源，经反射镜及分光镜（beam splitter）1 和 2，
由物镜（Objective）聚焦打至样品上，反射光再由分光镜打至电荷藕合元件 (charge-coupled-device，CCD)
上，将讯号转换在荧幕（monitor）上；
同时再用雷射光经分光镜 1和 2 打至样品，成像于荧幕上，确定雷射光打至样品的位置后，
再将监控系统上的分光镜 2 及反射镜移开，以量测样品荧光。雷射光经物
镜聚焦至约为 1 微米（micrometer，μm）大小的光束，
打至样品上，将样品中之电子由价电带激发至传导带，与电洞再结合而发出荧光。
荧光经分光仪分光后，直接由矽电荷藕合元件（Si-CCD）接收
将光讯号转换为电讯号再由电脑读出。其所需要的元件如下：
1. 氦镉雷射（He-Cd Laser）：使用波长 442 nm。
2. 物镜：50 倍。
3. 分光仪：焦距长 0.64 米。
4. 矽电荷藕合元件（Si-CCD）：适用范围为 0.3 ～ 1.1 μm
5. 白光灯源（Lamp）：钨丝灯。