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保定标题：金相试片研磨仪厂商-TEM电子显微镜试片制备的方法
所属分类：新闻资讯 点击次数：300 发布日期：2026-04-21
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金相试片研磨仪厂商-TEM电子显微镜试片制备的方法
聚焦离子束显微切割仪电镜试片制备法：
(a)将适当大小，约1×2.5mm 之试片，先以机械研磨方式将试片研磨并抛光至 50~60μm厚度。
以AB 胶固定于半圆形之铜环上。
(b)将固定于铜环上之试片放入聚焦离子束显微切割仪内，定义出欲观察之区域，而后镀上保护层Pt
(c)利用聚焦离子束在欲观察区域样品两旁，将不必要之区域切割掉。直到研磨剩下中间欲观察区域至厚度约100nm左右。
3. 粉末、纤维之TEM试片制备法：
将粉末或是纤维溶于酒精。
经过超音波震盪器作充分搅拌。
利用滴管将混和溶液滴在有碳膜之铜环上。
将试片置于真空抽气箱内等其乾燥后，即可作TEM 分析。