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保定标题：扫描式电子显微镜(SEM)来观察金属试片-金相仪器常识
所属分类：新闻资讯 点击次数：306 发布日期：2026-04-21
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扫描式电子显微镜(SEM)来观察金属试片
扫描式电子显微镜观察
利用扫描式电子显微镜(SEM)来观察垂直于Mg-Ni界面反应的横截
面，可看到由左侧金属为Ni与右侧金属为Mg在温度 480℃
进行 45 小时反应后的横截面图，图中的Mg-Ni界面处可以观察到介金属的
生成，为一连续的层状结构，且介金属分别与Mg和Ni的界面都相当的平整，
呈现一平面的型态。我们利用SEM提供的BEI来观察同一试片，
由于BEI的对比与试片的组成原子有关，原子序较高的原子会因为较多的电
子反射而显现较亮的颜色，当一区域内包含不同的组成时，此区域影像对
比会出现不同的灰阶颜色，故可以藉由灰阶颜色来做试片组成的初步判
断，图中Ni端呈现较亮的颜色，Mg端的颜色则较深，界面处的介金属呈现
单一的灰阶颜色，可以得知介金属为单一的组成。此一连续层的介金属相
进一步由XRD与EPMA分析得知为Mg2Ni相(分析数据后面详述)。
透过SEM的表面观察及XRD、EPMA的组成分析只观察到Mg2Ni相，
无法分析出在相图中同为稳定相之介金属MgNi2的存在，而固态扩散偶在温度 400、430 及
450℃进行界面反应，亦可观察到相同的结果，即界面处只观察到连续层的Mg2Ni相