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保定标题:使用何光源可以达到8nm的纵向解析率-光学显微镜常识
所属分类:新闻资讯 点击次数:316 发布日期:2026-04-21
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使用何光源可以达到8nm的纵向解析率-光学显微镜常识
不需要扫描机制的非干涉式光学表面测绘术。利用通讯系统中常用的平方律侦测术,
能够在一般光学显微镜的影像上,以单一空间频率调变,
消去焦平面以外的光强度而得到光切片显微影像。再以差动共焦显微术的概念,
将这样得到的光切片显微影像之纵向解析率提高到纳米级。由于不需扫描和光学干涉机制,
系统架构单纯,成像速度高。目前在 8 位元数位化影像中,
使用波长 550 nm 的可见光源,已经达到 8 nm 的纵向解析率

