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保定标题：TEM材料显微镜-分辨率约在10nm,更佳可达2-3nm
所属分类：新闻资讯 点击次数：339 发布日期：2026-04-21
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TEM材料显微镜-分辨率约在10nm，更佳可达2-3nm
常用的TEM的电子加速电压为50～100keV，分辨率约在10nm，更佳可达2-3nm。
但由于试片制作不易与缺乏应用的动机，因此鲜少为科学研究者使用
Heidenreich成功制备铝及铝合金薄膜之穿透式电子显微镜试片，观察微结构之像对比并成功
以电子绕射原理加以解释，使TEM在材料科学研究上逐渐显出其重要性。并且加上试片研磨技术的提升；
TEM解析度的提高；晶体缺陷的电子绕射成像对比理论的发展；
试片在电子显微镜中之倾斜、旋转等装置的进步；
电磁透镜聚焦能力的提升，使TEM在科学的研究领域中才被广泛的使用