新闻资讯
古县利用TEM 电子显微镜来研究薄膜沉积厚度
所属分类：新闻资讯 点击次数：5 发布日期：2026-04-19
大家好，这里是老上光显微镜知识课堂，在这里你可以学到所有关于显微镜知识，好的，请看下面文章：
扫瞄式电子显微镜实作训练
利用TEM来研究薄膜沉积厚度，可印证出沉积层数，分别可了解相同溅镀条件之下薄膜沉积速度及厚度与沉积层数。
TEM图中显示出碳黑与碳黑披覆铂触媒之微观结
构与分佈状态，与不同碳黑与Clay比例所制备之触媒载体，由场发射式扫瞄式电子显微镜
（field-emission scanning electron microscope,FESEM）所拍摄之表面形貌了解不同比例的clay，
所造成碳黑分散程度及分散后的碳黑颗粒大小
网站网友点击量更高的文献目录排行榜：
点此链接
关注页面底部公众号，开通以下权限：
一、获得问题咨询权限。
二、获得工程师维修技术指导。
三、获得软件工程师在线指导
toupview,imageview,OLD-SG等软件技术支持。
四、请使用微信扫描首页底部官主账号！
相关新闻
- 古县标题：显微镜 数位像机连接方式: [2026-04-21]
- 古县标题：日2011本工业零组件进口需求以每年30%的成长幅度 [2026-04-21]
- 古县标题：北京上光仪器有限公司产品保固与维修保养服务 [2026-04-21]
- 古县标题：萤光抗体直接法可应用于任何抗原的物质 [2026-04-21]
- 古县标题：靡全球的 Leica MZFL III 萤光实体显微镜已功成身退 [2026-04-21]
- 古县标题：实验观察课-是显微镜的观察，一开始都不会找目标 [2026-04-21]
