古县荧光光度计的仪器结构简介-光学显微镜厂商-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：3 发布日期：2026-04-19

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荧光光度计的仪器结构简介-光学显微镜厂商

荧光光度测定法

● 在荧光测定结果中，荧光的强度(F)与仪器测得吸收的激发光束的fu射能量成正比，其公式如下：

● 其中，常数K'会因荧光测定器、光析管、荧光物质种

类、溶剂、温度等因素影响而有不同的量子效率。利用蓝伯．比耳定律将荧光强度与荧光物质的浓度c之间的

荧光光度计的仪器架构，依其结构组成分别有光源、激发光波长选择器、试样区、荧光波长选择器、

侦测器与数据记录器

● 光源

● 激发光波长与荧光波长选择器

● 样品分析区

● 侦测器

光源

▪ 由公式(4)中可明显看出，荧光强度F与光源功率I0成正比，因此，荧光光度测定法所使用的吸收光源

应较钨丝灯或氘灯更强。目前最常使用的光源有低压汞蒸气灯(mercury lamp)与高压氙灯(xenonlamp)。

低压汞蒸气灯可于254、302、313、546、578与773 nm波长下产生很强的光谱，由于荧光物

质可藉由不同的波长激发出不同的荧光，

因此通常至少有一条汞灯谱线会适合；而高压氙灯则需要强

大的电源供应器以产生在15~30 V时有5~20 A的直流电流，其连续光谱可提供在300~1,300 nm之波长范围。

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