古县使用光学显微镜观察粗晶粒陶瓷材料结构特征
所属分类:新闻资讯 点击次数:6 发布日期:2026-04-20
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使用光学显微镜观察粗晶粒陶瓷结构 人们通常从宏观及性能检测上了解这些功能瓷的功能效应及性质。然而利用显微镜可以直接看到材料内功能过程的发生及发展。对于铁电功能瓷,通过电畴观察.这些过程可更清楚地显示出来。热压烧结制备的PLZT透明铁电瓷,由于它为单相、无气孔、高透明度、相变温度接近室温、对外场(电场或应力)非常敏感,因此它十分方便用于进行在外场作用下内部产生功能过程等的观测,但是普通光学显微镜放大倍数有限(例约400倍),观察普通陶瓷(晶粒尺寸较细,约为2--6μm)分辨率不够,为此应制备粗晶粒陶瓷(例15 - 40μm)。另外,为了消除光学干扰,试样应磨薄至一个晶粒厚度的薄片,这样在偏振光透光条件下进行观察,可消除由于光波透过多个晶粒所引起的光折射反射,从而使得在外电场作用下,其光性变化可清楚地显示出来。这项工作主要利用热压PLZT陶瓷粗晶粒单晶粒厚度的薄片,在电场作用下进行功能过程的观测。另外,由于晶界区具有高应变能,因此在发生功能过程中,它常起能源作用,为此也进行试验和讨论
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