姜堰遮盖颜料高折光率孔隙率光学分析仪器
所属分类:新闻资讯 点击次数:8 发布日期:2026-04-20
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遮盖颜料高折光率孔隙率光学分析仪器 因孔隙率增长而使遮盖力增长得如此r巨大差异正好说明用光学方法测定填料(低折光率)的C P V C是很卓越的,而对遮盖性颜料(高折光率)则远不如此,甚至是可疑的,除非用填料将颜料冲稀。 有几种不同的光学性质用来测定视觉外观的突然改变,即表明在C P V C这一点时从全固体到多孔状态的过渡。 用散射系数测定C PV C时光学性质的变化在一系列P V、C中取得光学数据的最基本方法是:从P VC阶梯中直接测定一系列漆膜的光反射率和透射率。从这些数据,可用Kubelk扣Munk方程测定散射系数(S值)。将散射系数对P V C作图得到二直线相交于C P V C值。这个分光法既基本又灵敏; 用对比率测定C P V C对光学性质的变化测定对比率通常要求在特定的黑白方格或条纹底材上,按P V C阶梯施以相同厚度的漆膜。 用着色力测定C P V C时光学性质的变化 着色颜料改变不透明漆的颜色的能力是以其着色力(T S)量度的。相反,白色涂料的相对不透明度可以用同样规定数量的着色颜料对漆膜着色进行对比测定。 用着色力测定C P V C,要求制备一系列PV C阶梯的不透明漆膜,此漆膜用少而固定量的颜料着色。这些经着色的漆的散射系数(S值)主要来自白色遮盖颜料,而吸收系数(K值)来自着色颜料。不断涂漆若干层即可将漆膜厚度加大到能直接测定涂料的反射率。反射率R瑞的是这样一种漆膜厚度的反射率测定值,即再增加厚度也不能改变反射率
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