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三沙高倍光学显微镜下研究矿物的解理特征
所属分类：新闻资讯 点击次数：8 发布日期：2026-04-20
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高倍光学显微镜下研究矿物的解理特征用于光学研究和解理碎片法 与矿物颗粒法相比，解理碎片法具有一定的潜在优势，用理碎片法可研究较大的样品，因而能对样品中不同包裹体组合和结晶方位之间的关系进行研究，然而即使矿物的解理异常发育（方解石），在高倍显微镜下观时，也往往表现出不平整表面的特点，从而掩盖了下伏的包裹体，需要用浸油来消除这些影响，因此，解理碎片法的价值是有限的。测温分析所需抛光片的制备 两面抛光的矿物薄片是成功在进行包裹体测温研究的关键，标准的矿石抛光工艺可以很容易地改成流体包裹体抛光薄片的制作工艺，片子高质量两面抛光比平行和平整表面更重要，不过我们总是应该力争把这两方面都搞好，抛光片的最终厚度取决于包裹体的大小和丰度以及矿物的透明度，大多数样品厚度要求介于0.2和0.5mm之间，但是如果样品不透明或半透明，则需要制备很薄的（约0.1mm）抛光片，厚度大于2mm是不允许的，因为这会影响设计的冷-热两用台的操作。
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