三沙扫描穿遂显微镜可以量测金属固体表面
所属分类:新闻资讯 点击次数:4 发布日期:2026-04-21
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使用硅晶圆或奈米碳管(CNT)製作成针尖小于100nm(奈米)的奈米,当奈米由「金属固体」表面扫过时,接触「金属」表面会导电,利用导电的大小来控随物体表面高低起伏而上下移动,可以量测「金属固体」(良导体)表面。将上下移动情形记录下来,并且利用电脑模拟物体表面三维高低起伏而绘出相对应的三维图形。扫描穿遂显微镜(STM)的解析度与奈米的尺寸有关,可以用来观察大约1nm(奈米)的结构,体视显微镜,因此可以看到由电脑模拟的原子影像。
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