上思石英在单偏光显微镜下突起很低，晶体表面平滑-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：12 发布日期：2026-04-19

大家好，这里是老上光显微镜知识课堂，在这里你可以学到所有关于显微镜知识，好的，请看下面文章：

石英在单偏光显微镜下突起很低，晶体表面平滑

石英与长石的光性区别：

长石通常具有明显的双晶，而石英很少见到双晶；

长石通常具有解理纹，一般石英无解理纹；

长石易风化，晶体表面不光滑，而石英则无风化现象，只是表

面吸附一些粘土质点；

长石为二轴晶，且通常为负光性，而石英则为一轴晶，正光性

。

观察石灰石时，根据石英颗粒与方解石颗粒光性不同，也可将

这两种矿物区别开来，混入石灰岩中粘土矿物的颗粒很小，在低

倍的显微镜下观察石英和方解石颗粒，不会引起困难。

石英与方解石的光性区别：

石英在单偏光下突起很低，晶体表面平滑，而方解石具有闪突

起的特点；

石英通常没有解理纹，而方解石的解理很显著；

在正交偏光镜间，石英的双折率较弱，干涉争较低为一般灰白

至淡黄，而方解石的双折率很强，干涉色很高，小颗粒或边缘有

鲜艳的颜色；

在正交偏光镜间转动显微镜物台，石英的干涉色发生变化，而

方解石的干涉色，有时则看不到变化。

在锥光下观察时，石英为一轴晶正光性，方解石为一轴晶负光

性。

用目测法参比标准图估测石英含量，参照本篇章第八切

之二矿物含量的测定方法4进行测定。

检验石灰石中结晶二氧化硅的含量，还可以采用薄片法更行

，薄片较油浸粉末片的制备工序复杂，但前者的优点在于能够观

察石灰岩结构。

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