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上思高分辨率的折光器的加工精度-图像分析显微镜

所属分类:新闻资讯 点击次数:10 发布日期:2026-04-19

大家好,这里是老上光显微镜知识课堂,在这里你可以学到所有关于显微镜知识,好的,请看下面文章:

高分辨率的折光器的加工精度-图像分析显微镜


采用斩光器与同步换接器能够消除光源发光不稳定及光
电转换器灵敏度不稳定对测量精度的影响。这是由于对数放
大器1的输出信号减去了对数放大器2给出的校正信号。而
校正信号正比于参考光通量。

    然而,在建造上述系统的时候会遇到一系列的困难。首
先,假如斩光频率不与活动架运动同步,那么它就应当比测
量频率高得多。当测量频率很高时,斩光频率就会达到太高
的值,以致现代的对数放大器也不能正常工作。如果将斩光
频率降低到二倍于测量频率,则斩光器必须与活动架同步运转。

    很明显,一旦实现起来就会遇到很多困难。提高这类系
统的测量速度是通过提高调制速度来达到的。这就要求斩光
器圆盘上的刻线变得更密。试验表明,由于高分辨率的斩光
器的加工精度不够,.所以会产生较大的噪声。结果使得测量
精度降低。由此可见,上述系统具有一系列的重大缺点,因
而不能用于快速输入装置中。

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