上思电子显微镜微区分析用于鉴定微粒矿物-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：8 发布日期：2026-04-19

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电子显微镜微区分析用于鉴定微粒矿物

矿物中某一元素所产生的特征X射线光子的数量，与矿物中该

元素的含量成正比，因此，根据矿物中一元素的特征X射线强度

和也已知成分的标准样品的同一特征X射线强度相比较，即可获

得定量的数据。

电子探针分析主要用于微区分析，最小的分析区域在1微米以

下，通过电子束扫描法，可查定几百微米内元素的浓度变化。

电子探针在矿石方面目前主要用于鉴定微粒矿物，测定矿物的

化学组成，并研究矿物中各部分的含量变化，由于通过电子探针

在矿物表面上扫描，可直接地了解到元素在矿物中的含量分布情

况，如果元素分布不均匀就可能是机械入物，假如元素在矿物中

分布均匀又不是矿物的固定组成的元素，就可能是类质同像混入

其中的，因此电子探针是研究矿石中元素存在形式的有力工具。

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