上思垂直地安置显微镜的照准轴)上的读数显微镜来进行测量-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：6 发布日期：2026-04-19

大家好，这里是老上光显微镜知识课堂，在这里你可以学到所有关于显微镜知识，好的，请看下面文章：

垂直地安置显微镜的照准轴)上的读数显微镜来进行测量

当进行设备位置的检核测量时，可采用电接触法确定方向线上

引张线的位置。这种方法的原理是，借助于引张线的闭合电路来测

定显示设备的小闸刀同引张线相接触的瞬间。时针显示器式的显示

设备或带有插轴的测微器安置在测量标志内。利用常规小电灯泡或

音响信号器作为接触瞬间的记录器。这种测定引张线位置的误差是

30-50微米。

假如利用垂直投影的仪器(光学对中仪器)，或用装

在专用支架(这个支架可以严格垂直地安置显微镜的照准轴)上的

读数显微镜来进行测量，那就可以极大地提高引张线法的精度。在

测量的过程中，为拉紧和移动引张线，采用专用的引张设备。引张

线的两个端点要固紧，以免拉线用的重锤的振动传给引张线。这种

方向线测量方法称为引张线一光学法。

用引张线一光学法测定起始点间方向线上任一过渡点的误差，

是下列诸主要误差来源影响的结果：

1)气流对引张线位置稳定性的影响，

2)引张线直径的变化，

3)在起始控制点中心上方安置引张线的误差

4)按显微镜或按读数的误差

5)引张线局部弯曲，

6)引张线的振动

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