上思测量值随颗粒堆积体的孔隙度分析图像显微镜-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：8 发布日期：2026-04-19

大家好，这里是老上光显微镜知识课堂，在这里你可以学到所有关于显微镜知识，好的，请看下面文章：

测量值随颗粒堆积体的孔隙度分析图像显微镜

流体透过法原则上可以应用于任何粒度的颗粒表面积测量

(或平均粒度测量)，但是当粒度大干50微米时，通常用筛分析

更方便和快速些。对于粘滞流范围，透过法测量的颗粒直径下限

为5微米，因为测量所用的流体不是液体就是气体，在液体情

况，小于5微米颗粒的堆积体，当液体透过时颗粒倾向于团聚，

这使颗粒堆积体的孔结构不均匀；而在气体情况，

，这时有些孔空间的尺寸达到与气体分子的

平均自由程可比较的数量级，发生气体分子在孔壁上的“滑动”

使得科泽奈一卡曼公式需要修正，补充“滑动”项，否则得出的

渗透率结果偏低。经此修正后，气体透过法的测量范围可延伸到

几十个埃的数量级。

尽管透过法的测量值随颗粒堆积体的孔隙度而波动，并和选

用的孔模型有关。但是透过法的测量仪器比较简单，成本低廉，

并且操作容易和便于携带。因此，关于透过法的研究，目前仍很

受重视。

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