上思测量的颗粒体中存在细颗粒,测得悬浮液的颗粒浓度-老上光仪器厂

上思公司新闻上思行业新闻上思常见问题

新闻资讯

所属分类：新闻资讯点击次数：10 发布日期：2026-04-19

大家好，这里是老上光显微镜知识课堂，在这里你可以学到所有关于显微镜知识，好的，请看下面文章：

测量的颗粒体中存在细颗粒,测得悬浮液的颗粒浓度

测量的颗粒体中存在细颗粒时，重力沉降时间就比较长；由于仪

表的稳定性、颗粒的布朗运动，测量误差也就比较大。因此，为

了缩短测量时间和减少误差，对细颗粒测量应该采用离心沉降技

术。

粒度已同可见光波长相当，而发生十分复杂的散射现象，其消光

系数随粒度变化很大。为此采用X光作为入射光源，这样既

避免了细颗粒组分的散射效应，又可直接测得悬浮液的颗粒浓

度，而不像用可见光那样所直接测得的仅是颗粒的有效投影面

积。

X光比浊仪配备调节沉降槽高度的机构，以便测量过程中不

断地改变沉降高度。对于细颗粒，测量几乎是在“贴近"悬浮液

—的表面层进行，这样即使在没有离心机附件的情况下，也可以缩

短细颗粒的测量时间。

沉降槽中再倒入经分散好的悬浮液，盖上盖板，打开X光机

韵窗口，即开始颗粒沉降。

在测试过程中，逐步调节沉降高度，以便缩短细颗粒测量时

间。轱个诱讨强唐随高彦和时闻蛮化的沉降曲线

网站网友点击量更高的文献目录排行榜：点此链接关注页面底部公众号，开通以下权限：一、获得问题咨询权限。二、获得工程师维修技术指导。三、获得软件工程师在线指导 toupview,imageview,OLD-SG等软件技术支持。四、请使用微信扫描首页底部官主账号！