上思光谱测温构成温度测量的基础-光学仪器原理-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：16 发布日期：2026-04-19

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光谱测温构成温度测量的基础-光学仪器原理

只要在辐射物体中存在接近于热力学平衡，我们可以通过适

当分析它的辐射得到其温度的最度．这种温度测量明显的优点是

感温器可以远距热源．同时，这种方法只限于感温器能看到热源

的条件(例如，我们不能用这种方法直接测量不透光固体的内在

温度)，并且取决于热源的特性和感温器与热源之间的光路条件．

直接显出的应用是测量稳定的热电偶材料不能使用的高温，但是，

这种方法决不限于这个范围．

有几种辐射现象，借以构成温度测量的基础。总起来可分为

两大类，即光谱测温和辐射测漏．光谱测温适用于非光密物质，

辐射测温适用于光密物质．光谱技术一般包括在3000一

100000K 的温度范围内对气体或等离子体辐射的谱线(或频带)

进行试验，并且取决于谱线强度、宽度和温度关系的公式．尽管

这种方法的准确度按一般的标准看是低的，但这种方法往往是测

量这种极端温度的可行的方法．这里我们不进一步讨论光谱

捌温法．关于这门技术的详细情况可参阅文献

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