上思表面粗糙度、轮廓水平截距、微观计量光切显微镜-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：4 发布日期：2026-04-19

大家好，这里是老上光显微镜知识课堂，在这里你可以学到所有关于显微镜知识，好的，请看下面文章：

表面粗糙度、轮廓水平截距、微观计量光切显微镜

当用轮廓仪测量Ra时，若一次测量出的数值巳达到要

求的极限或稍许超出，则其合格性往往难于判断。一般均由

多次测量取平均值确定。

若次的测量值低于标准数值的300，则认为～次成

功，无须再测。

但是，若该值已处于极限值，则须做三次测量，且每次

均不得超过。若三次测量中有一项接近极限，就要再测三次。

1)有关轮廓的术语。表面轮廓、实际轮廓、几何轮

廓、横向轮廓、纵向轮廓、周期轮廓和随机轮廓。

2)有关基准的术语。基准线、取样长度、评定长度、

轮廓偏距、轮廓的最小二乘中线、轮廓的算术平均中线和中

线制．

3)有关轮廓形状的术语。轮廓的单峰、轮廓的单谷、

单个微观不平度、轮廓峰、轮廓谷、轮廓微观不平度、表面

加工纹理、轮廓峰顶线和轮廓谷底线。

4)其它术语。表面粗糙度、轮廓水平截距、微观不平

度高度和间距的辨别率。

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