上思测量仪器(即光切显微镜)比轮廓仪价格便宜-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：8 发布日期：2026-04-19

大家好，这里是老上光显微镜知识课堂，在这里你可以学到所有关于显微镜知识，好的，请看下面文章：

测量仪器(即光切显微镜)比轮廓仪价格便宜

可以测量表面不平度范围为1--0．03μm(相当于光洁度▽10一▽14)。

测量误差大约为5％。

优缺点

优点

(i)光切法和干涉法在测量时都不使用测头，因此不会划伤

零件表面

(ii)可以测出被测表面实际轮廓的谷底，测量精度较高(因

不受测量头大小的影响)

(iii)由于测量仪器(即光切显微镜和干涉显微镜)比轮廓仪

价格便宜，所以使用较广泛。

②缺点

(i)在光学仪器上不能一次测出许多评定参数的参数值；

(ii)轮廓仪一次可以测出27种参数的参数值；而光学仪器

则要测量几次才能得出一个参数值

(iii)有许多复杂表面无法测量。

印模法也是一种非接触式定量测定表面粗糙度的方法。对某

些大而笨重零件和难以直接测量的内表面(如孔、槽等表面)，使用

仪器测量粗糙度很不方便，一般采用印模法测量。当然有时也采

用测量仪器中另外设计的辅助装置或专用测量仪器来测量。

印模法的原理是利用某些块状的塑性材料作为印模，贴在被

测零件表面上，待取下后在贴合面上印制出被测表面的轮廓状况，

然后对印模进行测量，得出粗糙度的参数值。由于印模材料的强

度和硬度都不高，故不能用接触法测量(以免测量力引起印模表面

波纹变化)。因为印模材料不能完全达到被测表面微小不平度的

谷底，测得的印模粗糙度数值总比被测表面实际轮廓的实际数值

来得小。为此，对印模所得出的表面粗糙度测量结果还需要进行修

正。修正系数主要与印模材料有关，通常由实验确定。

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