泰兴陶瓷光学特征显微镜分析仪器-陶瓷学常识-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：4 发布日期：2026-04-19

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陶瓷光学特征显微镜分析仪器-陶瓷学常识

20世纪30年代以前，显微镜还只是科学家的专有工具，尚不普及。

一些学者注意到了推广显微镜分析的重要意义。

1919年.A.B. Peck在关国陶瓷学会会刊上著文介绍应用显微镜来研究陶瓷，

同时讲解光性矿物学鉴定步骤。强调陶瓷显微学家的重要作用，

先后有A. A. Klein,R. Shigemnne, H. Insley,G. A. Sokolov等研究了瓷器、

绝缘瓷、瓷砖和高压电瓷的显微结构。

1931年，E. Herlinger也在德国陶瓷学会会刊上著文，介绍用显微镜观察陶瓷

材料的方法。可见，在许多研究者的心目中，显微镜已经成了非常必要的研究

和检验仪器了。

透射光显微镜功能的重大提高还表现在配置了弗氏转台，它可使薄片在物镜

下做任意的三维旋转，可以地测定矿物的双晶角、解理角和结晶方位。

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