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泰兴淬火测定分析光学显微镜-材料分析仪器

所属分类:新闻资讯 点击次数:9 发布日期:2026-04-19

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淬火测定分析光学显微镜-材料分析仪器

选取的奥氏体化温度,另再选择一高温一低温的奥氏体化温度作回火组织的比较。 
其结果显示,越高温的奥氏体化温度,易使晶界上析出物成长越粗大,
并由于金相合金含量降低, 

而使Ms点上升,于回火冷却时产生越多的Martensite组织。此外,以TEM观察二次回火组织, 
可明显观察到因回火而析出的各种型态大小的碳化物,其中由外形及绕射图形判断, 
回火碳化物种类至少有M3C及M23C6。 

由于淬火至室温无法得到Martensite,特别将均质化后试样置于液态氮中作深冷处理, 
并观察回火对其影响,发现经回火处理的Martensite因析出碳化物成为回火Martensite, 
而使其腐蚀时碳化物被腐蚀掉而留下孔洞,造成光学显微镜下的颜色变为黑色。 
此外,回火次数的增加,可减少残留奥氏体量并增加马氏体变态量 
,然而文献中所建议的二次回火并不足以消除所有的奥氏体,仍有大量奥氏体残留 
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