泰兴测定细微小零部件的工具显微镜
所属分类：新闻资讯 点击次数：12 发布日期：2026-04-20
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测定细微小零部件的工具显微镜绕射技术―电子和中子绕射量子力学告诉我们，基于测不准原理(Uncertainty principle)，粒子的位置和动量两者是是无法同时测定的，对于粒子位置的描述只能以一种机率的方式来表述，描述在某个位置上找到这它的机率。在1923年德布罗意(de Broglie)提出物质波概念来描述运动中的粒子，他提出物质波波长λ= h/p，其中p是动量，h为普朗克常数。将运动中的粒子可以描述成一个传递中波包(wave packet)，既可表现出波的性质，也描述了粒子的概念。当物质也变成波时，即便是抽象的机率波，是否也能像水波、绳波或电磁波一样互相干涉呢？实验首先证实电子的波特性。个将中子用于固态晶体之绕射实验则是于1945年由俄斯特．沃伦(Ernest O.Wollan)在橡树岭石墨反应堆进行的。随着科技的进步，技术的成熟，科学家已经可以制造出波长适当的电子束和中子束，用于不同方面的研究。由于电子束以长程的库伦作用力与物质交互作用，强度是很容易被吸收而衰减，一般而言，电子束只能达到材料表面数层原子。利用此一特性，电子绕射主要是用于研究表面的结晶状态，低能电子绕射(Low-energy electron di raction,LEED)以及反射或是反射式高能电子绕射(Re ectionhigh-energy electron diffraction,RHEED)是表面物理研究中极为重要的工具
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