天涯导电覆层的厚度-涡流法覆层测厚仪技术应用
所属分类：新闻资讯 点击次数：8 发布日期：2026-04-20
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导电覆层的厚度-涡流法覆层测厚仪技术应用涡流法覆层测厚仪 涡流法覆层测厚仪的更大特点是在仪器制造中要重点地进行干扰因素的抑制或消除。根据测量对象、用途以及技术要求不同，仪器电路变化很大。 通常涡流法覆层测厚仪包括激励电源、测头、测量电路、信号处理电路以及显示电路等部分。 激励电源主要是单频正弦波振荡器、多频正弦振荡器、脉冲发生器。 单频激励的覆层测厚仪根据其测头的激励方式，通常有以下几种电路。微型计算机涡流法覆层测厚仪的原理图。这种测厚仪包括测量电路和微计算机部分。它通过微机程序对该仪器操作采取人机对话方式进行测量，所测得的数据通过微机运算和处理，可以直接显示，也可以进行数据统计处理，全部结果还可以打印，作为检测报告保存起来。 涡流法覆层测厚仪由于测量对象的不同，所要抑制的干扰因素也不一样，因而对电路调试和要求则不相同，有各自的特点，下面分述不同测量对象的仪器及其应用。涡流法测量导电基体上非导电覆层的厚度可从几微米到几十毫米，甚至更厚。通常利用涡流法测量覆层厚度，主要是测量铝．及其合金上的阳极氧化膜、铝和铜等及其合金上的涂覆层的厚度。较通用的仪器的测厚范围在1mm以内。 测量导电基体上非导电覆层厚度实际是测量测头和被测件基．体金属表面问的距离。在这种覆层厚度测量中，如果测头每次接触被测表面其状态不能保持一致性，则会导致在距离上的微小变’化，反映在仪器显示的灵敏度和覆层厚度的灵敏度是相同的，并且无法抑制，因而对测头测量的技术要求很高，通常都采用压测头以保持测量状态的一致性。 基体电导率的变化是造成非导电覆层厚度测量误差的一个重要原因，为此涡流法覆层测厚仪具有抑制电导率变化影响的特点。
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