天涯横截面镀层微结构图像分析光学显微镜-硬度测量
所属分类：新闻资讯 点击次数：7 发布日期：2026-04-20
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横截面镀层微结构图像分析光学显微镜-硬度测量横截面镀层微结构由横截面 OM光学显微镜 观察发现，添加 1～3g/l Co2+离子至胺基磺酸镍镀液中，使纯镍镀层由原本粗大之柱状晶结构转为镀层呈细小结晶结构此种 Co2+的添加导致的结晶细化效果，导致镀层硬度随 Co2+的增加而递增。然而，添加 4～17g/l Co2+镀液中所得的镍钴合金镀层的金相结构呈层状结构(图4.4(e)、(f))，其对应硬度的结果，层状镍钴合金有较大的硬度。最后，当镀液中含 Co2+超过 17g/l 时，镀层转为柱状结构(h)），此时镀层硬度随镀液 Co2+含量增加而递减而对应镀层钴含量来看，可发现纯镍为粗大之柱状晶，镀层钴含量在 1～40wt.％的镍钴合金镀层为细小结晶构造，合金镀层之硬度随镀层钴含量增加而增大；当钴量含在 40～60wt.％间的镍钴合金镀层微结构转为层状组织并具有更高硬度，即 400Hv 左右，在此范围中镀层钴含量对硬度影响甚小，虽然镀层钴含量增加但硬度持平不变；而当镀层钴量大于 60wt.％后结晶组织逐渐转为纤细柱状，硬度随钴含量增加而减小。横截面 TEM 解析由基本胺基磺酸镍浴中所得纯镍镀层呈粗大柱状晶结构
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