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通州高分辨的电子显微影像测量分析仪器-显微镜常识
所属分类：新闻资讯 点击次数：6 发布日期：2026-04-20
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高分辨的电子显微影像测量分析仪器-显微镜常识温高低对低剂差排环的效应较小，温区间间隔需较大才可看出有明显变化。由于单晶碳化矽含加工制造缺陷，无法提供空孔有之成核点，因此在所有条件下皆未发现空孔的存在。差排环的型态，目前推是由格隙原子团聚，而造成之Frank 型多一排原子之差排环。高分辨之电子显微影像显示某些区域极有可能符合以上推，但在未超出影像范围区域无法显示完整差排环的端，因此此部分仍须努。未研究将进高温以及高剂之照射实验，以解差排环是否会在6H 碳化矽结构下演化为差排网或其他缺陷型态，并深入探讨其机制
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