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翁田镇标题：近场光学显微镜光学解析力提升至数十纳米
所属分类：新闻资讯 点击次数：15 发布日期：2026-04-21
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近场光学显微镜光学解析力提升至数十纳米
(scanning near-field opticalmicroscope, SNOM) 结合了AFM 探针表面探测的技术，
此技术首先须将AFM 探针在前端部分制作出一极微小的奈米孔径，
再将雷射光源耦合进此一微小孔径内，在形成一奈米亮点。利用 AFM
探针扫描技术将此一奈米亮点保持在其近场光的范
围内，而此范围远远小于入射光波长，
利用此一技术，光学解析力便可突破绕射极限，提升至数十奈米。
近场光学显微镜的发展，对于研究薄膜表面形态的光学性质有非常大的助益。
绍共聚焦拉曼光谱(confocal Raman spectrum)，
共聚焦拉曼光谱主要是将雷射光透过物镜聚焦至试片上，
再收集反射所得到的拉曼讯号至侦测器来得知试片的拉曼光谱及表面形态。相较于传统拉曼光
谱，共聚焦拉曼光谱利用聚焦孔径来过滤非聚焦范围内的拉曼散射讯号，大大提升其拉曼光谱解析
度，对于微小区域下的光谱分析，提供了非常重要的资讯