外型比较简单的圆柱形构件可用显微镜测量-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：4 发布日期：2026-04-19

大家好，这里是老上光显微镜知识课堂，在这里你可以学到所有关于显微镜知识，好的，请看下面文章：

外型比较简单的圆柱形构件可用显微镜测量

无损探伤分射线探伤、超声波探伤、磁力探伤及渗

透探伤等几种。

1）射线探伤能直接显示物体内部的情况，基本上

能够确定缺陷有性质、大小和形状，且有照片可记录

，如X射线，Y射线以及电子加速器等，这里信介绍X

射线探伤法。

X射线探伤法可分为透视照相、荧光观察、电离探

测等，透视照相法灵敏度高，检查对象如锅炉、气包

等外型比较简单的圆柱形构件，被透视件可进入 X光

透视室，其焊接厚度在25毫米以下，可用125千伏左

右X光机；厚度在40毫米以下，可用150千伏X光机

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