金属试样中测定的再结晶结构分析用图像显微镜-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：8 发布日期：2026-04-19

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金属试样中测定的再结晶结构分析用图像显微镜

x射线照相也可相当近似地测定一次再结晶的结束。在严重

变形的试样中，这一时刻与x射线背景上连续德拜环的消失、

以及在反射点数量与退火时间(温度)关系曲线上的极大值相一致.

在小变形试样中测定的再结晶结束不太可靠，它与轴

向仲长的模糊反射点在德拜环上消失的时刻，或在劳埃照片上具

有星芒的斑点消失的时刻相对应。

用于研究再结晶动力学的X射线照相的应用范围由于使用计

数器记录X射线千涉线条(即基于衍射仪的X射线照相)而更为

扩大。

这个方法显著缩短曝光时间，而且最重要的是能直接在等温

加热时分析再结晶，即在相当低(在室温以下)或高温下，不需中

断过程以取出X线照片或准备试样。最后一点是很重要的，因为

冷却和重复加热试样，通常明显地改变再结晶动力学。

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