TEM的图像衬度-直接测量晶体材料的晶面间距-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：10 发布日期：2026-04-19

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TEM的图像衬度-直接测量晶体材料的晶面间距

TEM的图像衬度来自于三种机制.它们对成像都起到了作用:质录/厚度、

衍射和相位。在明场成像中.物镜孔径对准光轴中央，其大小决定了形成图像的

散射电子的数量。较厚或密度较高的区域产生更多的散射电子.致使图像更暗。

如果样品是晶体，那么电子可能发生衍射，图像衬度将取决于品体取向，较强衍

射区形成的图像较暗。当令不同相位的电子通过物镜孔径并对成像发挥作用时.

将产生相位衬度。由于大部分散射事件都会导致相位的改变，而又不可能选择足

够小的物镜孔径排除所有散射电子，因此大多数TEM图像都存在一些相位衬

度.如果散射电子束通过物镜孔径并发生干涉，则能够获得样品的晶格图像。从

晶格图像可以直接测量晶体材料的晶面间距。

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