用于测量比较的显微物镜的特点,倍数低、孔径小-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：3 发布日期：2026-04-19

大家好，这里是老上光显微镜知识课堂，在这里你可以学到所有关于显微镜知识，好的，请看下面文章：

用于测量比较的显微物镜的特点,倍数低、孔径小

显微系统的象差要求及结构形式

对单纯用于瞄准的显微系统，只要将视场中心的刻划线去对准物

体，这时仅用到视场的中心部分，其边缘部分只起陪衬作用，对这种

显微镜只消轴上点象差（球差、色差及近轴点彗差）就可以了。

轴外象差及放大率误差可不必特别注意。但若要在分划板上进行

瞄准读数或比较测量，这时除了要消轴上点象差外还要注意轴外点象

差和放大率误差。其中畸变会使视场边缘部分的放大率与中心部分不

同，对测量精度的影响是直接的，

因此应使残留的畸变值减小到不影响测量精度为止。至于其它的

轴外象差，只是使象模糊而降低对准的可靠性，还找不出它们之间的

真镜关系，可从同类型镜头的类比中确定相应的依据。放大率误差主

要来源于不正确调焦或分划板偏离设计位置，采用远心光路可减小这

一误差。‘用于测量比较的显微物镜的特点是：倍数低、孔径不大而

视场较大、远心光路，有时要求工作距较长，但象质要求较高。

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