测量计数光学显微镜,颗粒物中的微量分析技术-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：8 发布日期：2026-04-19

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测量计数光学显微镜,颗粒物中的微量分析技术

目前已应用到颗粒物中的微量分析技术包括:用于颗粒物微观形貌研究分析

的电子显微镜技术、用于微区成分分析的微探针技术和飞行时间质谱技术等。

其中电子显微镜技术包括扫描电子显微镜技术(SEM)、透射电子显微镜技术

(TEM)和原子力显微镜((atomic force microscope, AFM);

微探针技术包括扫描质子微探针分析(SPM)、质子微探针(PM)、扫描质子微探针

(SPM)、核子微探针(NM)、扫描核子微探针(SNM)等;

飞行时间质谱除了前面介绍的飞行时间质谱(TOF-MS)，

还包括飞行时间二次离子质谱(TOF- SIMS)等。

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