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UFM超声原子力显微镜的分析
所属分类：新闻资讯 点击次数：3 发布日期：2026-04-20
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超声原子力显微成像可以100微米到纳米尺度对材料表面模量分布进行成像分析遥该技术基于扫描探针成像技术利用原子间的范德华力作用来呈现样品的表面特性。
工作原理：
AFAM 是基于扫描探针成像技术发展起来的 利用原子间的范德华力作用来呈现样品的表面特性遥 将样品耦合到超声换能器之上 换能器发出纵波激励样品 使样品表面振动遥 利用微小悬臂来感测针尖与样品表面之悬臂间的交互作用 这作用力会使悬臂摆动 再利用激光将光照射在悬臂的末端 当摆动形成时 会使反射光的位置改变而造成偏移量 此时激光检测器会记录此偏移量 也会把此时的信 给反馈系统 以利于系统做适当 的调整 Zui后该信 与换能器信 进行锁相放大得到样品的表面特性 除了得到模量成像分别图像还同时得到表面形貌图像。
优势：
● 目前Zui先进的扫描探测显微技术，可在纳米尺度
● 得到材料表面弹性性能分布图像。
● 可以测量薄膜弹性性能。
● 使得硬度和杨氏模量的数值计算成为可能。
● 图片的对比度远远优于其他方法得到的图片。
● 可以在空气中和液体环境中测量。
● 是一种无损的方法。
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