粗糙表面矿物断口表面试样分析显微镜
所属分类：新闻资讯 点击次数：9 发布日期：2026-04-20
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粗糙表面矿物断口表面试样分析显微镜 ． 景深大，图象立体感强，透射电镜大10倍，较光学显微镜的景深大300倍，由此适合粗糙表面的观察，如矿物断口表面、晶面的生长纹、阶梯等的观察和结构分析等。(3)试样台可动的自由度大，试样可在三宴空间内作六个自由度移动，即三变空间的平移和旋转，用来观察试样各个方向；的细节十分方便。 (4)在试样表面可得到多方面的资料，如无阴影照明性质的二次电子象，又可获得有阴影照明性质的背散射电子象(即成份象)，和强调深坑部分的吸收电子象。 (5)对被测试样的损伤和污染社度小，特别适用于生物、医学，细菌试样的观察，这是因为电子柬流小，束径小，束能小，以及电子束在试样表面作光栅状扫描，而不是固定一点照射试样，由此对试样的污染和损伤小。 · (6)在观察形貌的同时，又可进行试样微区成份的点，线，面扫描定性和定量分析，查定元素的赋有状态等。分析体．积为数立!方微米，相对灵敏度为0．05％左右。 (7)分辨率为50一?0埃，较透射电镜略低。 (8)附有x射线波谱仪或X射线能谱仪都可进行试样成·份的定性及定量分析，但前者对试样表面要求严格(平整光滑，导电性好等)，故定量分析精度高，后者定性分析速度快，2—3分钟内便能将试样的成份全SS元素分析出来
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