温度循环变化或结构设计-试验剖面检测
所属分类:新闻资讯 点击次数:6 发布日期:2026-04-20
网站网友点击量更高的文献目录排行榜:
点此链接
0
温度循环变化或结构设计-试验剖面检测 电子系统的瞬态冷却 当需要在温度循环变化或结构设计变化二者之问做出选择时,比较简单的办法是改变温度循环,设计变化既花钱又费时。但是,如果设备的热设计起决定作用的话,更好还是花些时间和经费做些改进,而不要冒故障风险。 必须非常认真评价的另一个方面,就是功耗。由于热源是电源,所以有可能通过简单地改变一下加电循环的办法,或者使元件在较低的功耗下完成相同的功能,来降低功率。许多元件可做成扁平封装的形式或DIP形式,而功能完全一样。 进行热分析时,一般都是从电气工程师那里得到功耗值的。如果工程师对产生热量的估算偏高了,就会使机械设计超过了实际需要,而变得更大、更重、更费钱。 由于PCB的过热点的温度低于212°F,所以现在的情况是可以接受的。 如果不改变温度循环试验剖面,也不改变功耗,则必须改变系统的热设计。 研究上述所评价的热阻表明,这些热阻都可改变,但必须付出一些代价。
关注页面底部公众号,开通以下权限:
一、获得问题咨询权限。
二、获得工程师维修技术指导。
三、获得软件工程师在线指导
toupview,imageview,OLD-SG等软件技术支持。
四、请使用微信扫描首页底部官方账号!
相关新闻
- 标题:显微镜 数位像机连接方式: [2026-04-21]
- 标题:日2011本工业零组件进口需求以每年30%的成长幅度 [2026-04-21]
- 标题:北京上光仪器有限公司产品保固与维修保养服务 [2026-04-21]
- 标题:萤光抗体直接法可应用于任何抗原的物质 [2026-04-21]
- 标题:靡全球的 Leica MZFL III 萤光实体显微镜已功成身退 [2026-04-21]
- 标题:实验观察课-是显微镜的观察,一开始都不会找目标 [2026-04-21]


