测量样品时使用测角器,晶粒计量金相显微镜
所属分类：新闻资讯 点击次数：5 发布日期：2026-04-20
网站网友点击量更高的文献目录排行榜：
点此链接
测量样品时使用测角器,晶粒计量金相显微镜原因：首先。在很多情况下测量极图时不使用测角器的摆动功能，这样如果不考虑口角变化的影响，x射线束在整个测量极图的过程中基本上照射同一部分晶粒．因此不会出现逻辑偏差；另外，当晶粒极为细小时样品任何部位晶粒取向的分布状态都可能很接近整体晶粒取向分布状态。 因而在整体上对极图质量的影响不大；再有，当待测样品内的织构非常强时大多数晶粒取向会分布在某些取向位置附近．在样品各个部位都会测到同种织构的存在，所以测量其它取向晶粒时出现的逻辑偏差对整个极图的影响并不显得十分重要，因而往往被人们所忽略。虽然有如上种种原因，但并不能否认逻辑偏差的存在，只是逻辑偏差被掩盖了。这就造成了该问题的隐蔽性。 一般认为，对于粗晶样品为了保证所测极图良好的统计性须在测量样品时使用测角器的摆动功能。若样品内晶粒比较粗大而且织构不很强．样品各部位的晶粒取向分布与整体分布的偏差就会加大。同样尺寸的x射线束所能照射的晶粒数变少．因而同样的衍射线不会在x射线束照射到的任何部位都出现，这时上述逻辑偏差就不容易被掩盖住了。逻辑偏差的出现造成了极图质量的下降。当人们由于样品晶粒粗而希望借助测角器的摆动功能增加极图的统计性时明显出现了逻辑偏差，这就是问题的危害性。
关注页面底部公众号，开通以下权限：
一、获得问题咨询权限。
二、获得工程师维修技术指导。
三、获得软件工程师在线指导
toupview,imageview,OLD-SG等软件技术支持。
四、请使用微信扫描首页底部官方账号！
相关新闻
- 标题：显微镜 数位像机连接方式: [2026-04-21]
- 标题：日2011本工业零组件进口需求以每年30%的成长幅度 [2026-04-21]
- 标题：北京上光仪器有限公司产品保固与维修保养服务 [2026-04-21]
- 标题：萤光抗体直接法可应用于任何抗原的物质 [2026-04-21]
- 标题：靡全球的 Leica MZFL III 萤光实体显微镜已功成身退 [2026-04-21]
- 标题：实验观察课-是显微镜的观察，一开始都不会找目标 [2026-04-21]
