用于同时测量基体表面多层覆镀的镀层厚度便携金相显微镜
所属分类：新闻资讯 点击次数：8 发布日期：2026-04-20
网站网友点击量更高的文献目录排行榜：
点此链接
0
用于同时测量基体表面多层覆镀的镀层厚度便携金相显微镜涡流法测厚 涡流法测厚也属非破坏性测厚法，可测量磁性基体上的非磁性镀层、铝，铝合金表面的氧化膜或其它非金属保护膜。其测量误差与磁性法相似。方法原理经调零和校准符合要求后，立即将探头垂直予试样的规定部位，这时在表头上指示的数值，即表示试样该部位的镀层厚度值。然后在附近部位反复测量几次，其数值接近时，取其各点平均值作为镀层的厚度平均值。 涡流法测厚，也可用于非磁性基体上的与镀层间电导率相差较大的镀层和其它非导电涂复层。X射线荧光法测厚是一种快速、高精度的非破坏性测厚方法。此法可测量任何金属或非金属基体上的15μm以下各种金属镀层的厚度，它可以对面积极小的试样和极薄(百分之几μm)的镀层、形状极复杂的试样进行测厚。 X射线荧光法也可用于同时测量基体表面多层覆镀的镀层厚度，还可以在测量二元合金(如Pb-Sn合金等镀层)厚度的同时，铡出合金镀层的成分。所以是一种比较先进而应用范围广泛的测量方法。 x射线荧光法测厚的工作原理是利用x射线管或放射性同他素释放出X射线，激发镀层或基体金属材料的特征X射线，X射线的频率是金属原子序数的函数，而其强度与厚度有关。所以，通过测定X射线的衰减后的强度，即可测量出被测镀层的厚度。
关注页面底部公众号，开通以下权限：
一、获得问题咨询权限。
二、获得工程师维修技术指导。
三、获得软件工程师在线指导
toupview,imageview,OLD-SG等软件技术支持。
四、请使用微信扫描首页底部官方账号！
相关新闻
- 标题：显微镜 数位像机连接方式: [2026-04-21]
- 标题：日2011本工业零组件进口需求以每年30%的成长幅度 [2026-04-21]
- 标题：北京上光仪器有限公司产品保固与维修保养服务 [2026-04-21]
- 标题：萤光抗体直接法可应用于任何抗原的物质 [2026-04-21]
- 标题：靡全球的 Leica MZFL III 萤光实体显微镜已功成身退 [2026-04-21]
- 标题：实验观察课-是显微镜的观察，一开始都不会找目标 [2026-04-21]
