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不同晶粒或晶块尺寸测量多功能金相显微镜
所属分类：新闻资讯 点击次数：21 发布日期：2026-04-20
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不同晶粒或晶块尺寸测量多功能金相显微镜样品中的晶粒很细关于微观应力的测量 由于微观应力的存在，使得不同晶粒或晶块的点阵常数将产生变化。当微观应力使面间距大于正常的标准值时，则其反射的布拉格将略微变小；反之，当微观应力使面间距小于正常的标准值时，布拉格角将稍微变大，这样一来，微观应力引起了衍射线条在正常峰值左右摆动，底片上的线条宽化，记录纸上的衍射峰变得不尖锐，而成了圆秃的峰，这就是样品上由于微观应力的存在而引起的线条宽化。 而当样品中的晶粒很细时，某一晶粒参与同一布拉格角反射的晶面数将减少，因此当X射线的入射角与布拉格角有微小偏离时，由各原子面所反射的X射线合成后，也引起了衍射线条的宽化。透射法适用于极薄的试样，反射法则适用于较厚的试样，而且两者的晶粒只有足够细时才能进行测量，如果材料的晶粒特别粗大时，则只能采用劳厄法来测定。
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