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测量颗粒折射率/鉴定矿物的干涉显微镜
所属分类：新闻资讯 点击次数：8 发布日期：2026-04-20
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测量颗粒折射率/鉴定矿物的干涉显微镜 干涉显微镜可以直接用在矿物学研究上，不需要对仪器作任何改进。最主要的用途是测定松散自由颗粒的折射率，作为鉴定矿物和了解其光性与成分变化之间关系的一种手段。用类似的方法，也很容易测定不同种类玻璃的折射率变化。 在一个折射率为已知但厚度为可变的自由晶粒中，干涉条纹中零条纹的位置取决于厚度，而在厚度均匀的薄片里，零条纹的位置只取决于折射率。 因此，零条纹只用在测量薄片中的条纹位移，而不能用于松散的自由颗粒上。 对于几微米大小的包裹体，特别当包裹体的折射率与其周围主矿物的折射率差别很大时，必须用不同的程序来进行测定。
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