研究显微变形的光干涉测量法- 干涉显微镜的作用
所属分类：新闻资讯 点击次数：4 发布日期：2026-04-20
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研究显微变形的光干涉测量法- 干涉显微镜的作用 研究显微变形的光干涉测量法 光干涉测量法通常分为点的和立体的（全息照相）两种。用种方法可以进行一个点上的探测，而用第二种方法，则无论被研究物体有多么复杂，都可以同时观察物体整个被研究的表面或整个物体。 在点干涉测量法中，利用两束叠加的光路，因为这里的干涉图象出现，只是在对同时存在的两条光程图象进行比较而来的。 各种点干涉测蛋法实际上都是利用迈克尔逊干涉仪或其变形产品的原理为葵础，其结果是两束相干的平面光波的叠加而产生干涉，所以各种光学元件都应当是高质量的。 被研究的物体表面的本身在某种程度上也是干涉仪系统中的光学元件，所以这个表而应当是光学平面，而且要抛光成镜面。 这里探讨一下全息照像的物理原理和它与普通照像的区别。 普通照像一般在白色光（非单色光和非相干光）下，光学（透镜） 系统将三维物休拍摄在照像底版平面上。这样，物体的像就失去了立体性质，不能从像片各个方向观察物体，所以在像片上没有位移视差效应。 在照片底版丧面的每个部位上，只能拍摄物体一定部位的像。所以，在一张底片上无法拍摄几个物体的像，因为一个像要干扰另一个像。像的照度决定于在单位时间内照射在底版每个部位单位面积上光的能量。此时不考虑物体反射的光波相位，因为它们是分布在像的平面上的。
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