测粒度和矿物颗粒的仪器-铁谱显微镜的使用方法
所属分类：新闻资讯 点击次数：8 发布日期：2026-04-20
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测粒度和矿物颗粒的仪器-铁谱显微镜的使用方法读数误差的消除 在用反射光源判读被测区域的颗粒覆盖面积时，由于许多金属顺较也是反光的，开始时会有反常假象，这就要求采取措施消除谱片下方或显微镜载物台上用来承载谱片的载物玻璃片上的污迹和杂质所引起的误差。 这里之所以用反射光来判读的原因是：在使用低倍目镜的情况下。它与谱片的距离足够远，以致在所有的颗粒中。只有更大的金属颗粒呈暗色。而在判读时使用10倍物镜。其光圈数为0.25，与此相应半锥角为14°。此时只有大而平的颗粒才能将光反射回透镜。 相反，放大倍数大的透镜其光圈数也大，对于常用的100 倍目镜，其光圈数为0.9 ，相应的半锥角为64°，这就是放大倍数大。颗粒反射光量也大的原因。 由于测粒度法是逐个测定每颗矿物粒度进行的，不受矿物形状和粒度大小不一致的影响。在重砂矿物筛分时，矿物粒级间隔可适当增大。在分析自然重砂时，测拉度法还为地质研究中的矿物拉度分析和形态分析提供较详细的资料。
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