提升光电元件的性能实验,电路板检测显微镜-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：9 发布日期：2026-04-19

大家好，这里是老上光显微镜知识课堂，在这里你可以学到所有关于显微镜知识，好的，请看下面文章：

提升光电元件的性能实验,电路板检测显微镜

在光子晶体结构中引入一层有别于原结构的物质作为缺陷层

（defect layer）时，将会破坏光子晶体的週期性排列，

导致原本完整的光子能隙产生漏光现象。从穿透光谱上来看，

光子能隙内将出现若干波峰；因系由于缺陷层所引起，

我们称之为缺陷模态（defect modes），这些缺陷模态出现的位置

与数量取决于缺陷层结构的设计，我们将在下段详述。利用此特性，

已有相关团队提出在波导、光纤、激光共振腔、光滤波器等光电元件上的应用

另一方面，若缺陷层具可调控的材料特性，

将可有效控制缺陷模态的光谱特性；此优越的调控机制，

可进一步提升光电元件的性能

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