显微镜分析仪分析试样原材料结构特点,试验仪器-老上光仪器厂

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所属分类：新闻资讯点击次数：11 发布日期：2026-04-19

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显微镜分析仪分析试样原材料结构特点,试验仪器

以X 光绕射分析仪分析各试料组织结构相，

测量面为轧延平面。并且探讨经过退火热处理后，

晶粒方位之转变。

究针对各试料进行拉伸试验(应变速率为1mm /min)及Micro Vickers 微硬度测试，

并以奈米压痕试验机(应变速率5nm/s)，对各试料基地以及第二相

进行测试，以了解其基本机械性质。

将板型试片一端固定于试片夹持装置，另一端装配振幅感应器。

试片尺寸为80mm x 15mm x 3mm，试片两侧于近振动台夹持

端 25mm 距离处，开 V 型凹槽(notch)，

使振动频率由低频扫描至高频(10~300Hz)，对应末端的

位移量更大者即为试片的共振频率

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