您的浏览器版本过低,为保证更佳的浏览体验,请点击更新高版本浏览器

以后再说X

欢迎光临~老上光仪器厂

全国服务热线: 400-811-7895

诏安新闻资讯
新闻资讯

诏安标题:常用微米量级的碳化硅或氧化铝陶瓷微粒测量

所属分类:新闻资讯 点击次数:31 发布日期:2026-04-21

大家好,这里是老上光显微镜知识课堂,在这里你可以学到所有关于显微镜知识,好的,请看下面文章::

常用微米量级的碳化硅或氧化铝陶瓷微粒测量

  微粒MMC

  作为结构材料,它们广泛地应用于航空航天领域。在这些材料中,
通常用微米量级的碳化硅或氧化铝陶瓷微粒,来增强铝或钛合金的基体
。由于其增强体不像纤维增强的MMC那样具有方向性,其性能基本是各
向同性的。铝碳化硅微粒MMC(AI/SiC。,此处下标P指微粒)的比刚度
,在微粒体积含量为20%时比常规铝合金超出50%。作为比较,在相似
纤维体积含量时,包含碳化硅纤维的MMC将使比刚度增加约100%。

  其主要制造技术是快速液态金属工艺,如挤压铸造或以热加压为基
础的固态粉末过程。