您的浏览器版本过低,为保证更佳的浏览体验,请点击更新高版本浏览器

以后再说X

欢迎光临~老上光仪器厂

全国服务热线: 400-811-7895

诏安新闻资讯
新闻资讯

诏安标题:表面粗糙度轮廓仪器测定-表面粗糙度

所属分类:新闻资讯 点击次数:32 发布日期:2026-04-21

大家好,这里是老上光显微镜知识课堂,在这里你可以学到所有关于显微镜知识,好的,请看下面文章::

表面粗糙度轮廓仪器测定-表面粗糙度

按规程规定,量规应检定的项目有:测量面硬度,表面粗糙度,量
规的尺寸以及塞规、环规的圆度和圆柱度,卡规的平面度和平面平
行度。下面简要介绍这些受检项目的检定方法和所用的计量器具。
    (1)硬度
    用洛氏硬度计对新制量规采用抽样检查。
    (2)表面粗糙度
    可用表面粗糙度仪器测定,也允许用表面粗糙度比较样板进行
比较检定。
    (3)几何尺寸和形状、位置误差
    检测尺寸和形状误差时,
    使用上述推荐盼计量器具,选择测帽时要注要,尽量使测量时
被测量规与测帽之间的接触面为最小,即尽量接近于点接触或线接
触。测量圆柱面应采取刀刃状或球面测帽,测量球面应采用平面测
帽,测量平面应用球面测帽。
    卡规的尺寸用量块组检定。将卡规测量面擦干净涂上很薄的凡
士林油膜,先按卡规最小极限尺寸组合量规进行测量,并逐渐增加
量块组合尺寸直至使卡规在标注力(如无标注力时在自重)作用下,
恰当地通过量块组合体,这时量块组合体的尺寸即为卡规尺寸。
    检定卡规测量面平行度时,应将量块组合成等于卡规实际尺寸
加上卡规平行度要求数值(不得超过卡规更大极限尺寸),以不大的
力从任意方向置人卡规均不得通过。