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诏安标题：金属杂质瓷材料组分制样生产抽样检测显微镜
所属分类：新闻资讯 点击次数：50 发布日期：2026-04-21
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过金属杂质瓷材料组分制样生产抽样检测显微镜
一般来说大多是通过金属杂质原子起作用，例如高价金属原
子替位，低价金属原子替位，金属原子填隙，但有时也通过非金属
原子起作用，例如氟原子对氧原子的替位，氯原子对硫原子的替位
等，所有这些作用都可能形成不同能位的施主能级或受主能级，面
杂质原子不仅来自于配料时人为的掺加的杂质，也来自于原料不纯
所带来的杂质，而不同施主和受主之间又会产生互相补偿的作用，
给半导瓷的导电过程带来复杂的影响，如何在原材料的组分、配比
、含量、纯度上合理控制，以求在半导瓷的制造过程中达到预期的
性能，将在以后各节中，结合具体材料进行分析。
2、化学计量比的偏移
前面已经指出由于半导瓷材料组分与严格的化学比相偏离，
就产生了各种各样的缺陷，如金属原子或氧原子的空格点，填隙原
子等，生成施主能级或受主能级，产品的化学计量比偏移的程度以
及生成那一种缺陷，各种缺陷之间的比例既与原材料的性质有关，
也与烧结温度、保温时间、烧结与冷却过程中的气氛情况等工艺条
件有关，特别是冷却条件，对缺陷情况，产品性能影响很大，下面
将结合具体材料、进行分析。